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半導體與積體電路元件壽命試驗樣本數的意義 [複製鏈接]

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發表於 2012-3-31 09:52:36 |顯示全部樓層
本帖最後由 liaojenyi 於 2012-4-2 18:39 編輯

大致尚可用EXCEL統計公式計算D-1表,如下:
以1失效(f),樣本25(N)為例,LTPD=15%
因本表屬 90%的信心(CF)
LTPD = 1-BETAINV(1-CF, N-f, f+1)
15% = 1-BETAINV(1-90%, 25-1, 1+1)

每20批中有19批(95%允收機率、5%拒收風險),
其1,000小時不良率(p)之計算為:
1.4%= p =1-BETAINV(19/20, 25-1,1+1)

R(1,000) = exp(-p*1,000) ~1-1000*p = 0.986



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