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課程內容:
1. 半導體可靠度定義與數據特性 2. 機率與統計概論 3. 常用可靠度機率分佈(對數常態、韋伯、指數、伽瑪壽命分佈、常態分佈、卡方分佈;波桑過程、柏努利過程) 4. 壽命評估(點推定、區間推定、抽樣檢定、試驗樣本數決定) 5. 實驗設計 6. 討論
課程時間:101/02/14、101/02/21(週二) 18:30~21:30,2次共6小時
課程地點:新竹市光復路二段101號研發大樓
主辦單位:財團法人自強工業科學基金會
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Archiver|手機版|睿地可靠度論壇(TW-REDI Forum)
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