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日誌

顯微鏡檢驗

熱度 7已有 1798 次閱讀2012-3-8 21:44 |個人分類:技術學習

微電子零件檢驗內部構造、表面缺陷、與內部缺陷時，可以使用顯微鏡。

顯微鏡分為三種：

光學顯微鏡(optical microscope, OM)
電子顯微鏡(electron microscope, EM)
聲波顯微鏡(acoustic microscope, AM)

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發表評論評論 (3 個評論)

回復 ccceric 2012-3-15 22:00: 這方面 , TPK可以提供服務! 我們公司幾台這類不錯用的! FIB / SEM / SAM 可供參考!

回復 Astro_tsai 2012-3-30 14:59: 自從導入LF(Lead Free)之後每個客戶對於錫球的狀況更加注意, 都會要求在結構測試後進行Cross section or Dye& Pry analysis, 目前CS analysis 是內部必備的

回復 Kaka 2022-6-21 21:04: 不錯

hlperng

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