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睿地可靠度論壇(TW-REDI Forum)

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報告:以失效機制模擬為基礎之壽命評估方法 [複製鏈接]

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發表於 2012-3-30 12:59:11 |顯示全部樓層
本帖最後由 hlperng 於 2014-10-28 20:38 編輯

上星期在讀書會有談到除了加速壽命試驗之外,也可以模擬的方法來評估壽命,但是沒有詳細說明,
剛好想到在第4屆可靠度研討會有發表過這個文章,在這裡分享給大家。
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發表於 2012-3-30 15:05:19 |顯示全部樓層
感謝老師分享
PEGATRON QTR

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發表於 2012-3-30 17:49:18 |顯示全部樓層
謝謝老師的分享
老師每年會在園區科管局協助開類似課程
不知道今年會有嗎 ?

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發表於 2012-3-30 20:55:14 |顯示全部樓層
我不知道喔,
都是他們聯絡我,
今年到目前為止還沒有聯絡。

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發表於 2012-4-1 00:23:09 |顯示全部樓層
謝謝老師分享

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發表於 2012-4-2 22:32:47 |顯示全部樓層
謝謝老師的分享
Dear all: 彭老師、許老師與同學們,新的一年又到來了,大家都在自己的工作崗位上努力著,祝福大家在新的一 ...

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發表於 2012-4-3 12:48:17 |顯示全部樓層
感謝老師的分享(^^")

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發表於 2012-4-5 09:57:53 |顯示全部樓層
感謝老師分享,剛接觸這方面需要大量的資料來學習。

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發表於 2012-4-25 21:01:16 |顯示全部樓層
謝謝老師分享
一直想多上點關於可靠度的課程
只是好像有開課的地方並不多
主要是人也在北部
不知道今年下半年會不會開可靠度的課程

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發表於 2012-4-26 09:16:37 |顯示全部樓層
本帖最後由 hlperng 於 2012-4-26 09:41 編輯

2000年以後的可靠度技術發展如同過往,還是以電子產品為主,而半導體產品主導著所有電子產品的發展方向。

主導商用與工業用半導體產品的JEDEC所發行的JESD 47: "Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits",從2003年的B版到2011的H版,8年6次改版都是在反映失效機制與半導體產品可靠度的密切關係,搭配JESD 85: "Methods for Calculating Failure  Rate in Units of FITs",利用壽命試驗數據估算產品失效率(fit)值,對於各種試驗應力與壽命之間的加速因子,提供模型與案例,是值得學習的技術資料。

美國車輛電子委員會(Automotive Electronics Council, AEC)出版的車用積體電路鑑定標準的名稱,2007年由2000年D版改版為E版時,將"Stress-Test Qualification for Integrated Circuits"改成"Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits",也可看出失效機制對於可靠度評估的重要性。

2004年、2009年及2010年由法國空中巴士集團所發行FIDES可靠度方法,所提供使用應力與零件失效率之間關係的預估公式,同樣強調失效機制在可靠度預估技術應用所扮演的角色。

2005年(?)美國國防部準備讓217復活,找威利實驗室(Wyle Lab.)、海軍NSWC(機械可靠度預估手冊主編)、賓州大學、馬里蘭大學的可靠度專家,成立專案計畫進行217改版。這些單位都是從工程技術觀點處理可靠度的議題,或許這也是一種主流趨勢。

可靠度議題綜合物理、工程、與統計等領域,這些由系統工程主導,結合失效機制(物理)與可靠度評估(統計)技術的新趨勢,如何分享與學習,或許可以繼續當作讀書會的主要議題!


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