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測試階段失效率的估算問題 [複製鏈接]

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樓主
發表於 2012-2-2 10:55:48 |顯示全部樓層 |倒序瀏覽
請教各位大大...

一般的可靠度測試時都是取適量的sample 然後做同樣的測試(ex. 溫濕度循環,震動...etc)
然後才依照實驗結果換算失效率...
由於一般產品測試中 各項測試的sample 量均不多
那是否可以將範圍擴大為DVT(PVT)階段內的各項測試sample當成母群體? 將各項測試的失效記錄來換算失效率?

有怎樣的顧慮或者需要注意的事項?


PEGATRON QTR

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沙發
發表於 2012-2-3 11:02:13 |顯示全部樓層
temp30 發表於 2012-2-3 09:30
可靠度測試Sample數量不足,的確是大家都會遇到的的痛,相對也就必須用累積測試的結果來做統計,除了老師所 ...

非常認同王兄的看法,
畢竟sample 量太少, 如果還發生常態性失效, 那是非常嚴重的設計失誤...
目前3C產品的"壽命"太短, 搶上市是一個很重要的點, trade-off 是一個key...

另外許老師提到的等效性, 是否可以理解為"如果同樣是溫濕度的測試, ex. H/L temp cycle, Humidity., 可以將其劃分為同一群組", 或者 是以每一個失效樣品的失效模式來劃分群組? 還是有其他作法?
PEGATRON QTR
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