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關於電腦系統的MTBF 計算方式與規則 [複製鏈接]

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發表於 2014-8-11 14:54:27 |顯示全部樓層 |倒序瀏覽
本帖最後由 mars741110 於 2014-8-11 22:10 編輯

各位好,
小弟目前在系統廠工作,最近有個關於MTBF計算方式上的問題不是很了解。
想在這邊請教各位前輩與各位老師。(如有問題太過基礎 還請包涵)

目前我測試計算產品(電腦系統,成品非主件加總計算)的MTBF 方式為使用一般的高溫加速實驗
利用高溫加速倍數AF 來計算出產品的MTBF 是否達到預設要求
如:
經公式計算於攝氏40度時 AF為6倍、總實驗數量為200 台、總實驗時間為300小時,經由計算200 台x 300 小時 x 6倍 = 360000(小時)。在沒有發生故障的狀態下產品的MTBF 為36 萬小時。
我們目前是使用這個方式提出MTBF 數據。(將數據帶入781C PRST chart 後看是否通過)

可是我現在遇到的問題是因為某些原因,導致在實驗時發生以下變因:
1. 所實驗的機台主件(主機板)並非同一批生產出來的
假設共有200 台,M/B vision 為v3,但SMT 打件是分成2 個lot 出來(不同時間製造但版本別及PCBA內容是一樣的)

2. 所實驗的機台(系統)並沒有全部為同一時間執行,而是實驗時間累加
因場地受限或其他因素,導致預設的200 台產品在高溫chamber 內實驗時是分成2 個lot,也就是先執行100 台的攝氏40 度300 小時後再接著進行剩餘的100 台實驗,最後將兩者所實驗的總時數累加。

請問變因1,2 會影響我的結果嗎? 還是說正確的做法是必須"同一批SMT"、"同一批進行同時間的實驗"
謝謝。

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沙發
發表於 2014-8-13 17:25:12 |顯示全部樓層
liaojenyi 發表於 2014-8-13 15:38
即使不考慮變因,估計的平均壽命也會因:形狀參數、信賴水準等而異。
例如,形狀參數1、信賴水準63.2%,就 ...

感謝廖博說明, 那我原文請教的兩個變因是否會造成"數據瑕疵"
若以不考慮其他變因的狀況下, 所實驗的機台、數量與時間是不是一定要是同一批次、同一時間點進行?
而不能使用累加計算

實例:
原預估需達到100K 小時
作法1:
同一時間執行 60台 x 14天 x 24小時(1天) x AF=6.46 計算結果滿足100K

作法2:
月初開始執行 30台(SMT 批次1)  x 14天 x 24小時(1天) x AF=6.46
月中開始執行 30台(SMT 批次2)  x 14天 x 24小時(1天) x AF=6.46  兩批次加總滿足100L

其作法2 是不是不可作為報告依據 因SMT製造批次不同以及未整批(60台)同時間進行

*真的很感謝廖博與彭博給予這個在台灣的論壇讓我學習!!

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發表於 2014-8-18 11:16:37 |顯示全部樓層
真的很謝謝彭博與許博的說明, 版友的說明也十分感謝.
對於許博的解釋 小弟的計算是為了提供產品MTBF 數據.
對於加速因子的使用是在於壽命還是隨機失效的機率 小弟認為是隨機失效的機率(因我所提供的是產品MTBF 並非有效壽命)*可能我的認知不正確

另外這個問題會產生是在於A廠商認為作法2 是有效的, 但B廠商認為作法2 並不正確.
但我的認知則是對於MTBF 累積時間本因會出現問題而去做下架(維修), 而下架(維修)時會再補上機台(維修好的或是新品). 時間上當然是計算成累加.
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