睿地可靠度論壇(TW-REDI Forum)

 找回密碼
 立即註冊
查看: 10382|回復: 1
打印 上一主題 下一主題

Bogey test method 的疑惑 [複製鏈接]

Rank: 7Rank: 7Rank: 7

UID
4
帖子
186
主題
55
記錄
0
分享
0
日誌
0
閱讀權限
100
最後登錄
2023-10-27
在線時間
795 小時
樓主
發表於 2013-11-27 20:07:10 |顯示全部樓層
我覺得要把所謂的可靠度試驗與壽命試驗的意義定義清楚!
這個公式看起來是要驗證MTBF,而這個MTBF的意義是指隨機失效的部分,也就是浴缸形曲線的中間部分,
也就是說,是指失效機制符合Poisson process。
如果壽命試驗是指驗證產品壽命分佈時,那就應該是指累積損傷的的部分,這時候當然就不應該以增加試件數量來取代時間了。
我想你會有疑問,應該是把這個試驗誤稱為壽命試驗所產生的困擾!

Rank: 7Rank: 7Rank: 7

UID
4
帖子
186
主題
55
記錄
0
分享
0
日誌
0
閱讀權限
100
最後登錄
2023-10-27
在線時間
795 小時
沙發
發表於 2013-11-28 20:50:39 |顯示全部樓層
彭博士把這個公式推導的很清楚!
問題是,如果壽命是韋伯分布,那麼可以用增加試件數量來取代每個試件的試驗時間嗎?
雖然這個公式已經將增加試件數量與縮短試驗時間的比例調整過,而非1:1的關係,
我還是懷疑這個公式只是數學遊戲吧!
您需要登錄後才可以回帖 登錄 | 立即註冊

Archiver|手機版|睿地可靠度論壇(TW-REDI Forum)   

GMT+8, 2024-5-15 11:22 , Processed in 0.049717 second(s), 10 queries .

Powered by Discuz! X2

© 2001-2011 Comsenz Inc.

回頂部