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睿地可靠度論壇(TW-REDI Forum)

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書籍:Design for Reliability (2001) [複製鏈接]

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發表於 2012-5-22 14:50:43 |顯示全部樓層
本帖最後由 hlperng 於 2013-12-20 12:02 編輯

Dana Crowe and Alex Feinberg, 《設計可靠度》(Design for Reliability)
本書是根據Tyco電子公司的《設計可靠度手冊》改版編輯。由CRC Press在2001年出版,電子書,共220頁。

DfR = Design for Reliability為了可靠度所作的設計

目錄:
第I部分:階段關卡流程(The Stage Gate Process)
    1. 可靠度科學(Reliability Science)
    2. 瞭解顧客需求(Understanding Customer Requirements)
    3. 設計評鑑可靠度試驗(Design Assessment Reliability Testing)
    4. 設計成熟度試驗(Design Maturity Testing, DMT)
    5. 篩選與監控(Screening and Monitoring)
第II部分:支援階段關卡(Supporting Stage Gate)
    6. 半導體流程可靠度(Semiconductor Process Reliability)
    7. 解析物理學(Analytical Physics)
第III部分:可靠度議題(Topics in Reliability)
    8. 簡化可靠度統計學(Reliability Statistics Simplified)
    9. 加速試驗概念(Concepts in Accelerated Testing)
  10. 加速可靠度成長(Accelerated Reliability Growth)
  11. 可靠度預測模型(Reliability Predictive Modeling)
  12. 失效模式與效應分析(Failure Modes and Effects Analysis)
  13. 評估產品風險(Evaluating Product Risk)
  14. 熱力學可靠度工程(Thermodynamic Reliability Engineering)
  




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