睿地可靠度論壇（TW-REDI Forum）

標題: 有無建議的可靠度的書單 [打印本頁]

作者: kylinfire 時間: 2012-6-18 12:11:37 標題: 有無建議的可靠度的書單

請教各位前輩,老師
有無建議的可靠度書籍的建議清單
若有國內外的書目，
可否按照從基礎認知到專業技術的方式排序
比較好上手及漸入佳境的狀況
以上! 先在此感謝!

作者: Astro_tsai 時間: 2012-6-18 13:22:38

我個人的經驗分享....（應該沒有廣告嫌疑)
我當初是由柯煇燿博士的可靠度保證入門...
然後就看到一堆又一堆....資料
然後就這樣...

作者: liaojenyi 時間: 2012-6-18 18:57:30

以目標為導向的學習

作者: function 時間: 2012-6-18 20:59:48

書很多!!
光看書沒有感覺!!
要做中學!!碰到問題就去書上找答案，來這裡問更可以得到方向。

作者: kylinfire 時間: 2012-6-18 21:04:50

看來的確是這樣~ 可靠度的東西若沒有目標, 真的是一本又一本

作者: function 時間: 2012-6-18 21:12:42

補充一下！
在論壇的睿地共筆裡面有很多彭博士整理的資料，也可以參考！

作者: Astro_tsai 時間: 2012-6-19 08:31:47

以目前常遇到的問題
不外乎MTBF多少?, 要怎麼規劃Demonstration MTBF?
用這個IC/ Cap/MOSFET ...可不可以, 要如何挑選零件...
某某驗證測試條件哪裡來? 會不會太嚴或者太鬆...
怎麼做HALT?
不同的產業會有不同的需求(VOC) 就可以轉換成為你規劃(學習)的方向..
加油

作者: freedog 時間: 2012-6-27 14:19:43

我的學習方式是大致了解可靠度整體輪廓後 , 把可靠度切成單元化
例如:可靠度預估單元 , 壽命試驗單元, FMEA單元等等等.....
從中如果跟工作有相關或是有興趣的就會想去深入了解
同樓上講的規畫你的需求轉成方向
(以我自己目前碰到壽命試驗方面的問題, 參考書為"壽命驗證與評估--加速試驗技術之應用"這本書)
希望樓主找到適合自己的學習方式囉~~~

作者: kylinfire 時間: 2012-6-27 16:13:33

我自己追加一本,學會-王宗華老師出的,可靠度工程與管理, 如果要大概明瞭可靠度的範疇的話,蠻值得推薦這一本

作者: wliao35 時間: 2013-4-16 20:20:24

kylinfire 發表於 2012-6-27 16:13
我自己追加一本,學會-王宗華老師出的,可靠度工程與管理, 如果要大概明瞭可靠度的範疇的話,蠻值得推薦這一本 ...

CSQ新的教材專用書, 很多印刷錯誤沒校正到, 計算式錯誤不少, 尤其因要縮減頁數, 推導跳得太快, 是否王老師的原教材較清楚易瞭解?

作者: wliao35 時間: 2013-4-16 20:25:00

CSQ新的教材專用書, 很多印刷錯誤沒校正到, 計算式錯誤不少, 尤其因要縮減頁數, 推導跳得太快, 是否王老師的原教材較清楚易瞭解?

作者: hlperng 時間: 2013-4-16 22:59:12

本帖最後由 hlperng 於 2013-4-17 00:32 編輯

wliao35 發表於 2013-4-16 20:25
CSQ新的教材專用書, 很多印刷錯誤沒校正到, 計算式錯誤不少, 尤其因要縮減頁數, 推導跳得太快, 是否王老師 ...

已經開始嘗試進行學會新書的勘誤表整理工作，歡迎大家來找碴！！

http://redi.org.tw/forum.php?mod=viewthread&tid=135&extra=page%3D1　#6

要在產業界做可靠度，以資通訊電子產品為例，強烈建議大家一定要看國際電工委員會(IEC)發行的可恃性標準系列，雖然不是絕對完美無缺，但是定期更新、導入新概念與作法的動力是不斷的，內容完整性與涵蓋面遠超過美軍可靠度標準與手冊，而且那可是75%參與會員國都同意才公佈發行的國際共同標準！！幾次都提及，日本及大陸以日文和簡體字分別發行內容百分之百採用國際標準的國家可靠度標準，日本為了與國際接軌，新出版的JIS-C-60068環境試驗標準，甚至連編號都跟國際標一樣，大陸則依循國際標準慣例，在國標GB/T編號之後加上IDT IEC XXXXX或MOD IEC XXXXX字樣，以示與國際標準的調和性與追溯性。

另外就是一些產業協會發行的可靠度相關標準，例如IC零件產品要看JEDEC標準(與MIL-STD-883及MIL-PRF-38535互補)，電子構裝看IPC標準(取代MIL-P-55110及MIL-STD-2000) ，可靠度預估FIDES與SR 332是不錯的資料(取代MIL-HDBK-217)，機械零件可靠度可參考NSWC的可靠度預估程序手冊，這些標準或文件都是以MIL標準為基礎，配合現代技術發展而發佈的。美軍自從1995年代有一位美國國防部高官發表可靠度無用論之後，所有可靠度美軍標準的維護工作早就一蹶不振(除了MIL-STD-810之外)，參與撰寫、審核、或提供意見的專家學者，紛紛投靠IEEE、JEDEC、IPC等協會，美國國部經過10年之後即使是懺悔，重組RiAC，並於2006年發行的217Plus，那也是2000年代RAC已經發表的結果(PRISM)。而2008年發行的GEIA-STD-0009，雖然是不錯的可靠度計畫管理文件，但是國內看的人也不多，對於可靠度工作的內容與概念，仍然停留在MIL-STD-785和一些廠規的架構下，一直不想擺脫回歸到以顧客為主的國際標準趨勢。

現在已是2013年了，90年代的東西若沒有加上現代的元素，在應用上是有可能會脫節的。

要不然就是找幾本較為實務的教科書，認真的一步一步地從基礎著手

作者: wliao35 時間: 2013-4-23 07:30:01

更正表十分受用!

作者: wliao35 時間: 2013-4-29 09:19:21

許老師:

在積分算式中有很多 xdx, tdt , ζdζ.... 互換; 我實在分不清是印錯還是變數空間轉換! 可能要請行家仔細瞧瞧, 下次改版上下冊勘誤, 讓來人更易明瞭.

一點淺見.

作者: hlperng 時間: 2013-4-29 12:36:24

本帖最後由 hlperng 於 2013-4-29 12:49 編輯

wliao35 發表於 2013-4-29 09:19
許老師:

在積分算式中有很多 xdx, tdt , ζdζ.... 互換; 我實在分不清是印錯還是變數空間轉換! 可 ...

這是微積分在積分過程，處理啞變數(dummy variables)的習慣用法，只是為了說明積分變數與積分範圍之間的差異性與嚴謹性，並不會影響結果。

作者: function 時間: 2013-4-30 00:29:42

你可能要說清楚一點，
這些算式有些本來就應該是要這樣表達，有些確實是印錯了，
我上課的部分有錯誤的都在課堂上跟大家更正了。
當然我會建議下一版要更正。

作者: wliao35 時間: 2013-5-2 10:41:11

本帖最後由 wliao35 於 2013-5-2 16:39 編輯

對,好像是有一些印錯, 有一些有更正過,  另外就得自己看仔細點或許可了解其正確否.

例如:
Page16 1.6.1          Line 6
   F(t) = Intergral f(x)dx, 應為    f(t)dt 嗎?
   同理                Line 7    H(t) 亦然 .

Page17, 1.6.2       Line 2
   MTBF = Intergral  t f(t),  應為    Intergral  t f(t) dt 嗎?

Page 113             例5.7
(2) P(X>35)  錯誤,             應為    P(X>32.5) 吧?

作者: hlperng 時間: 2013-5-11 23:33:01

本帖最後由 hlperng 於 2013-5-12 00:05 編輯

wliao35 發表於 2013-5-2 10:41
對,好像是有一些印錯, 有一些有更正過, 另外就得自己看仔細點或許可了解其正確否.

例如:

第16頁第1.6.1節第6行：
隨機變數T的累積分佈函數F(t)寫成下式並沒有錯：
[tex]F(t) = \int_0^{\infty} f(x)\,dx[/tex]

你也可寫成下列的任何一種方式都沒有錯:

[tex]F(t) = \int_0^{\infty} f(y)\,dy[/tex]

[tex]F(t) = \int_0^{\infty} f(z)\,dz[/tex]

[tex]F(t) = \int_0^{\infty} f(\xi)\,d\xi[/tex]

[tex]F(t) = \int_0^{\infty} f(\zeta)\,d\zeta[/tex]

因為在積分式中，積分變數只是數學積分處理上的啞變數，只要積分函數的變數與積分變數寫成一樣的符號，無論是使用任何符號，都不會影響到積分結果，重點是在積分的上下限所使用的符號。此處的積分下限0與積分上限∞，此式為定積分，單位為%。

同應的道理，第7行累積危害函數中，失效率函數的變數符號與積分變數，只要兩者一樣，都不會影響到累積危害函數為時間函數的事實。而累積危害函數的積分下限為0、積分上限為t，積分結果累積危害函數為時間t的函數。

依此，第9行指數分佈的累積分佈函數F(t)，第10行指數分佈的累積危害函數H(t)的計算式，也都沒有錯，原因是一樣的。

第17頁第1.6.2節第2行漏印dt部分，已在勘誤表更正。

第113頁例題5.7，解答第3行，原文寫為：

[tex]P(X > 35) = P\left(Z> {\frac {32.5-25}{5}}\right) = P(Z>1.5) = 0.0668[/tex]

其中32.5誤植為35，應該寫成：

[tex]P(X > 32.5) = P\left(Z> {\frac {32.5-25}{5}}\right) = P(Z>1.5) = 0.0668[/tex]

作者: wliao35 時間: 2013-8-12 19:35:11

王老師的書看過後,發現印刷錯誤也不少, 還好有第一本教科書的基礎, 還看得出來哪裡錯;
再買柯老師的書來看, 發現它的排版/例題解答對我幫助很大!

作者: hlperng 時間: 2014-6-24 11:41:13

本帖最後由 hlperng 於 2014-6-24 11:44 編輯

Morris先生更新其Reliability Analytics Toolkit 網站的資料，增加可靠度書單線上資訊：

可靠度書單(Reliability Books)：http://reliabilityanalyticstoolkit.appspot.com/static/books.htm

睿地網站介紹莫里斯先生的網站：http://redi.org.tw/forum.php?mod=viewthread&tid=158&extra=page%3D1

作者: liaojenyi 時間: 2014-6-25 18:55:32

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