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標題: 零件可靠度--鉭質電容可靠度手法及應力因子 [打印本頁]

作者: temp30 時間: 2012-8-9 17:14:15 標題: 零件可靠度--鉭質電容可靠度手法及應力因子

目前業界多會考量的是電解電容, 因為電解電容的裡有電解液,會因為溫度加速老化,
因為鉭質電容結構不同,各位先進是否有鉭質電容相對應的可靠度驗證手法否或是建議的應力因子
其目的是為驗證鉭質電容的特性衰減或是封裝製程的weak , 再請各位指教.

作者: liaojenyi 時間: 2012-8-9 20:15:07

本帖最後由 liaojenyi 於 2012-8-9 20:16 編輯

https://www.google.com/url?q=htt ... tOfiSRo6eo63TH6tyTw
Modifications of the Standard Reliability Tests Usability of HTSL and LTSL Tests at Component Level

作者: temp30 時間: 2012-8-10 10:58:25

謝謝廖博提供的資訊, 受益良多且給我一個思考的機會.

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