MTBF Demostration 測試的失效數
報告各位長官小弟的客戶最近遇到一個問題
他們在作MTBF Demostration時,所測試的機台,在不同的時間點出現了同樣的fail
舉例來說: 測試第一周, 32台NB中一台Clock IC 失效, 測試第二周, Clock IC 又有一台失效
他們認為failure count 應該是"1", 因為都是同樣的失效
但是小弟認為這樣應該算是2個失效
請問各位長官
小弟是對的嗎.....@@~ Peter, 這我來回就好了
同一種類cloak IC fail, 所以算同一種失效模式
但是失效數(r) 要算2, 第二次fail.
如果有找出root cause,導入solution後可使Clock IC不再失效,我會算0失效,否則我們公司是算2個失效 如果找出root cause,亦導入solution於後續試件,這屬可靠度成長試驗。MTBF會隨改進過程而逐漸增加。 那請問廖博...那小弟要因此改變計算壽命的方式或參數嗎? 參考2F Astro_tsai之回覆
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